射频芯片大功率测试系统

射频芯片大功率测试系统

射频芯片大功率测试系统


产品概述

射频芯片的大功率测试的主要目的是通过前期筛选,及早发现性能不符合要求的产品,同时对芯片可靠性进行验证,对长期工作寿命进行评估。

整个系统能够为射频芯片提供大功率激励,实时测量芯片在大功率激励下的射频参数退化特性,并实现失效瞬态数据的保存,是衡量器件特性的重要测试方法。

滤波器测试系统

滤波器测试系统


系统组成
射频芯片大功率测试系统主要由信号源,功率放大器,功率计,定向耦合器,固定衰减器,高低温箱,矢量网络分析仪,上位机软件以及相关的附件组成,该系统支持业界主流的矢量网络分析仪,借助自主研发的实时监测输入,输出端功率系统和上位机软件,一方面可以验证大功率下的特性,也可以通过网络仪实时监控S参数的变化。
系统框图

系统框图


系统特点与性能
系统基本特性
频率范围:0.5~6GHz(功率放大器以及系统硬件决定)
激励功率:Pout≥43dBm(20W)(功率放大器决定)
功率精度:≤±0.1dB
支持CW,脉冲和LTE/5G NR等调制信号
工作时间≥1000h
工作环境:实验室,风冷散热
主要特点
自主设计开发功放及全自动测控软件
向导式校准操作指南,校准输入,输出路径的损耗(增益)
支持PowerServo功能,实时动态调整激励到射频芯片的输入功率
灵活的外部软件接口,支持不同厂家高低温箱的通信和控制
系统架构简单,成本低
输出结果灵活定义,支持功率log文件、网络仪S参数文件的自定义存储
全自动化的硬件连接、校准、测试和结果显示
仪器设备连接

仪器设备连接

校准文件导入

校准文件导入

软件界面

软件界面

测试过程

STP8000-S系统组成

输出校准文件 输入校准文件 测试结果文件
输出校准文件 输入校准文件 测试结果文件
网络仪校准与测试结果
校准结果

校准结果,带内抖动≤0.1dB

激励功率测试结果

激励功率测试结果(图中激励了1GHz的大功率,因此有毛刺尖峰)


订购信息
序号 型号 数量 描述
1 Keysight N5182B 1 频率:9kHz~6GHz;
幅度:-144~+18dBm;
幅度分辨率:0.01dB
2 R&S NRP18SN 2 频率:10 MHz -18 GHz;
功率范围:-70dBm~+23dBm
3 R&S ZNB8 1 频率:9kHz~8.5GHz
端口数量:4
4 赛迈Semi-HPG056047 1 频率:500MHz~6GHz;
增益:≥50dB;
输出功率:≥47dBm;
输出输出驻波比:≤2
5 赛迈-ST8000-ATE Platform 1 自动化监控输入输出功率;
测试结果Log文件实时导出;
滤波器特性退化自动报警;
定时开启、关闭射频信号激励
6 线缆、耦合器、衰减器、交换机等附件 若干 赛迈定制
7 高低温箱MT3065 1 支持与测试机软件的通信与控制

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通过系统地检索和分析相关输入信息,可以获得详尽且专业的数据,以支持或满足特定的需求或目标。

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苏州赛迈测控技术有限公司