滤波器CP测试系统
产品概述
随着芯片的结构以及先进封装技术的发展，晶圆级测试越来越重要。与传统的成品测试相比，晶圆级射频参数测试在校准、探针、测试精度、结果的生成等方面，对测试方案提出了更高的要求。
赛迈提供了灵活配置的测试方案，拥有业界领军的UPH、测试精度和丰富的交付经验，能够快速地帮助客户部署测试系统。
产品特性
◆ 支持单site和双site测量
◆ 支持导入校准文件
◆ 支持晶圆中Die的抽样测试（抽样比例：1/2,1/4,1/8等）
◆ 软件低良率报警
◆ 支持Mapping功能，输出结果包含Mapping(txt)\S参数文件\DAT文件\STDF文件\测试log文件，其中STDF文件可解析成csv文件
◆ 开放API，支持数据上传MES系统
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