滤波器CP测试系统
STP8000-F 滤波器CP测试机
产品概述
STP8000-F 滤波器CP测试系统，专为滤波器和多工器的CP测试设计。测试系统优化了传统测试架构，降低了系统复杂度，提升信号质量，测试性能更加出色，能够保证测试的稳定性、一致性和可靠性。测试机兼具极致的测试速度和超高性价比，与不同类型探针台配合，完成滤波器CP测试。
系统特点
- 测试站点：支持1-4site设置
- 频率范围：10MHz - 8.5GHz
- 通讯协议：TTL、GPIB
- 支持灵活配置晶圆的测试区域
- 兼容主流校准件及自研电子/机械校准件
- 基于配置文件实现灵活的虚拟匹配与去嵌
- 可配置的snp文件保存功能
系统组成
STP8000-F滤波器CP测试系统，由自研4端口矢量网络分析仪SNA3308，RF Port Module及PXI系统组成。配合自动化测试软件，提供业界领先的测试速度和精度。同时，系统方案也可以适配多种主流测试仪器，满足客户不同场景测试要求。
STP8000-F系统组成
Wafer mapping Tool
Wafer Mapping Tool是赛迈测控研发的一款WaferMap编辑及晶圆测试软件，具有以下功能：
- 根据晶圆和Die尺寸，自动生成WaferMap
- 根据晶圆和Shot尺寸及Die的相对坐标，生成WaferMap
- 自动判定边缘Die，有效Die；自定义HomeDie及StartDie
- 选取任意Die，执行测试并保存测试结果
系统配置
| 产品 | 描述 |
|---|---|
| SNA3308 | 4端口矢量网络分析仪，频率范围：10MHz-8.5GHz |
| RF Port Module | 可定制设计 |
| PXI机箱 | 机箱系列可选 |
| PXI控制器 | 高性能嵌入式控制器系列可选 |
| 测试软件 | 系统校准、测试及结果导出 |
- 可根据客户需求，配置不同型号分选机，组成测试分选一体机方案
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